Mikroskop sił atomowych (AFM) - Xe120, Park Systems, Korea.

Dane techniczne:

Maksymalny zasięg skanowania w płaszczyźnie XY: 90 µm × 90 µm
Maksymalny zasięg wydłużenia skanera w osi Z:
  • 25 µm (duża głowica)
  • 10 µm (mała głowica)
Tryby obrazowania: True Non-contact, dynamic contact, contact AFM, LFM, phase imaging
Tryb pracy: spektroskopia siły, dodatkowo jako mikroskop sił magnetycznych

Mikroskop jest wyposażony w dwie komory cieczowe (tzw. open and closed liquid cells) umożliwiające pomiary w środowisku ciekłym zarówno w temperaturze pokojowej (RT) jak i w temperaturowo kontrolowanym środowisku w zakresie od RT do 60˚C.
AFM jest zintegrowany z odwróconym mikroskopem optycznym (Olympus IX71) wyposażonym w kamerę fluorescencyjną XC10 (1.4 mln pixeli) oraz zestaw typowych filtrów fluorescencyjnych: DAPI, FITC, TRITC. Fluorescencja jest wzbudzana lampą typu X-Cite 120 Q (Lumen Dynamics).


Zastosowanie:

  • obrazowanie powierzchni w powietrzu i środowisku ciekłym
  • badanie własności elastycznych tkanek i komórek w środowisku ciekłym
  • pomiar siły oddziaływania w układach: białko-białko, białko-komórka, komórka-komórka

Lokalizacja urządzenia:

Zakład Badań Mikroukładów Biofizycznych (NZ55)