Elementy doposażenia dyfraktometru rentgenowskiego X'PERT PRO firmy Panalytical

Elementy produkowane przez firmę Panalytical, zakupione w 2009 r.

Dane techniczne:

Wirująca kapilara z oprzyrządowaniem
Układ ogniskujący do kapilary (zwierciadło ogniskujące)
Detektor paskowy
Zwierciadło paraboliczne
Koło Eulera z optyką ogniskującą
Lampa rentgenowska Cu specjalna

Zastosowanie:

Doposażenie przyrządu w układ z wirującą kapilarą wraz z oprzyrządowaniem umożliwia pomiar niewielkiej ilości materiału. Konfiguracja taka pozwala na pomiar małych próbek w transmisji, co jest szczególnie ważne z uwagi na charakter badanych materiałów (ciekłe kryształy, magnetyki molekularne, materiały biologiczne). Do prawidłowego przeprowadzenia pomiaru z wykorzystaniem kapilary wiązka wejściowa musi być dobrze zogniskowana. Realizuje się to przy pomocy zwierciadła ogniskującego i lampy dyfrakcyjnej o specjalnych parametrach wykonania. Nowego typu lampa rentgenowska może pracować również we wszystkich pozostałych konfiguracjach dyfraktometru.
Bardzo istotnym czynnikiem dla prowadzonych pomiarów jest skrócenie czasu pomiaru. Powodem jest min. wzrastająca liczba próbek, a co za tym idzie czas oczekiwania na przeprowadzenie pomiaru. Ułatwia to układ z kapilarą i zwierciadłem ogniskującym, oraz szybki licznik - detektor paskowy. Detektor pozwala jednocześnie mierzyć zakres kątowy 2,5o, co oznacza nawet kilkudziesięciokrotne skrócenie czasu pomiaru przy zachowaniu dotychczasowej zdolności rozdzielczej.

Na analizę naprężeń, a także na określenie przestrzennej orientacji krystalitów i wyznaczenie tekstury układu pozwala doposażenie w Koło Eulera wraz z optyką ogniskującą. Zastosowanie tej przystawki umożliwia wykonywanie pomiarów w funkcji dwóch dodatkowych kątów: φ i Ψ, gdzie φ jestem kątem obrotu próbki wokół normalnej do powierzchni, natomiast Ψ jest kątem przechylenia próbki wokół krawędzi wyznaczonej w wyniku przecięcia płaszczyzny dyfrakcji z powierzchnią próbki. Wielowarstwowe zwierciadło paraboliczne pozwala na uzyskanie wiązki równoległej o zbieżności rzędu kilku setnych stopnia. Równoległość wiązki jest szczególnie istotna w pomiarach reflektometrycznych cienkich warstw, ponieważ poprawia stosunek sygnału do szumów, zwiększa rozdzielczość i szybkość zliczeń, co powoduje wzrost intensywności o kilka rzędów wielkości i skrócenie czasu pomiarów. Do wszystkich przystawek używana jest wspomniana powyżej specjalna lampa rentgenowska o wyższym standardzie.

Lokalizacja urządzenia:

Zakład Badań Materii Miękkiej (NZ35)
Zakład Materiałów Magnetycznych i Nanostruktur (NZ34)