Dyfraktometr Rentgenowski

X'PERT PRO zakupiony w firmie Pananalytical styczeń 2005

Dane techniczne:

Goniometr pionowy w układzie Θ-Θ, niezależny napęd Θ i 2Θ, zakres kątowy od 0.2o, możliwość zmiany średnicy goniometru, dokładność kątowa ok. 0.001o
Ceramiczna lampa rentgenowska z anodą miedzianą, moc 2.2 kW, typ LFF (long fine focus), możliwość eliminacji składowej Kβ (filtr Ni): filtr Ni lub monochromator grafitowy
Optyka wiązki pierwotnej: (filtr Ni) szczeliny Sillera 0.04 rad, PDS (Programmable Divergence Slit) - programowalna szczelina dla wiązki pierwotnej , automatyczny atenuator, wymienna maska
Dwa niezależne tory detekcyjne dla wiązki ugiętej:
  • dyfrakcja proszkowa: PASS (Programmable Anti-Scatter Slit) - programowalna szczelina antyrozproszeniowa, PRS (Programmable Receiving Slit) - programowalna szczelina odbiorcza, szczeliny Sollera 0.04 rad, monochromator grafitowy, licznik proporcjonalny
  • reflektometria: kolimator szczelinowy, szczelina kolimatora (0.1 mm), szczeliny Sollera 0.04 rad, licznik proporcjonalny
Przystawki:
  • uchwyt dla próbek wielkoformatowych
  • spinner - możliwość pomiaru na podłożu bezodbiciowym (zero-background)
  • komora TTK 450 Anton Paar - pomiary dyfrakcyjne w funkcji temperatury (80 - 750) K
  • komora HTK1200 Anton Paar - pomiary dyfrakcyjne w funkcji temperatury (300 - 1500) K
  • stolik do pomiarów reflektometrycznych

Zastosowanie:

  • badania strukturalne szerokiej klasy materiałów, t.j. minerały, metale, półprzewodniki, substancje organiczne, itd.
  • reflektometria cienkich warstw;
  • niskokątowa dyfrakcja powierzchniowa

Warunki bezpieczeństwa:

Przyrząd spełnia najostrzejsze wymagania dotyczące ochrony przed promieniowaniem X. Część urządzenia, w której występuje promieniowanie, jest zamknięta w stalowej kabinie, przy czym drzwi do kabiny wyposażone są w okna ze szkła ołowiowego.




Lokalizacja urządzenia:

Zakład Badań Materii Miękkiej (NZ35)
Zakład Materiałów Magnetycznych i Nanostruktur (NZ34)