Dyspersyjny, konfokalny spektrometr mikroramanowski

Nicolet Almega XR - zakupiony w 2006 r.

Dane techniczne:

długość fali promieniowania lasera (moc): 785 nm (25-300 mW) 32 nm (1-50 mW)
detektor: kamera CCD,
chłodzona układem Peltiera do -50oC
maksymalna rozdzielczość spektralna: 1 cm-1
rozdzielczość przestrzenna: 0.1 μm
rozdzielczość głębokościowa (analiza konfokalna): 0.1 μm
powiększenia obiektywów mikrosopowych: 10x, 20x, 100x
automatyczny stolik X-Y-Z z krokiem przesuwu 0,1 μm   

Zastosowanie:

  • Analizy złożonych cienkich warstw oraz powłok poprzez określenie wiązań chemicznych
  • Analiza naprężeń w cienkiej warstwie przypowierzchniowej

Lokalizacja urządzenia:

Zakład Materiałów Magnetycznych i Nanostruktur (NZ34)