Badania materiałowe

Spektroskopia anihilacji pozytonów

Opis

Spektroskopia anihilacji pozytonów zajmuje dobrze ugruntowaną pozycję wśród metod służących do badania defektów punktowych: wakancji, ich skupisk i mikroporów, wytworzonych w materiale w różnych procesach: poprzez generację termiczną, odkształcenie plastyczne, uszkodzenia radiacyjne. To nieniszcząca metoda umożliwiająca badania szerokiego spektrum materiałów. Z uwagi na obszar penetracji pozytonów możliwe są badania na obszarach do kilkudziesięciu mikrometrów, choć dostępne są techniki eksperymentalne pozwalające zmniejszyć ten zasięg do kilkudziesięciu nanometrów.

Zastosowanie

W pracowni można wykonywać pomiary widm czasów życia pozytonów i poszerzenia dopplerowskiego linii anihilacyjnej. Obie techniki pozwalają określić stopień zdefektowana materiałów na poziomie atomowym tzn. określenie koncentracji defektów typu wakancji i ich rozmiarów, w przypadku skupisk wakancji. W badaniach materiałów polimerowych stosowane techniki służą do wyznaczania rozmiarów tzw. objętości swobodnych, a w materiałach porowatych wielkości porów zamkniętych w zakresie od. 0.3 nm do 10 nm. W pracowni anihilacji pozytonów wykonywane są badania defektów punktowych, np. w materiałach poddanych procesowi tarcia i zużycia lub rekrystalizacji.

Wykonanie

Zakład Badań Strukturalnych (NZ31)

Kontakt

prof. dr hab. Jerzy Dryzek
tel.: 12 662 8438, 12 662 8370
e-mail: Jerzy.Dryzek@ifj.edu.pl